Пайдаланушы

Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?	Тіркеу

Хабарламалар

• Қарау
• Тіркелу

Іздеу

Іздеу

Іздеу аумағы Барлығы Авторлар Атауы Түйіндеме Терминдер Толық мәтін

Парақтау

• шығарылымдар
• Автор бойынша
• атаулары бойынша
• бөлімдер бойынша
• басқа журналдар
• Категориялар

Ақпарат

• Оқырмандар үшін
• Авторларға
• Кітапханалар үшін

Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз

Кілтсөздер bipolar transistor dissociation etching fluorine atoms gas temperature ionization kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling plasma polymerization powerful LDMOS quantum dot radiation intensity reduced electric field strength resistive switching silicon specific power testing

Ағымдағы шығарылым

Том 54, № 3 (2025)