Влияние термической обработки на фазовую сегрегацию в полимер-содержащих композитных пленках CsPbBr2I

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

В настоящей работе исследовано влияние температур вакуумирования и отжига на свойства композитных пленок на основе перовскитов CsPbBr2I, в которых использовали частичное замещение ионов Pb2+ на Mn2+, а также пассивацию границ зерен полиэтиленоксидом и поливинилденфторидом. В качестве растворителя был использован диметилсульфоксид. Для формирования пленок использовался метод центрифугирования. Температуры вакуумирования и отжига варьировали в диапазонах 60–80 и 60–90°C соответственно. В исследовании сравнивали спектральные зависимости фотолюминесценции, на основе которых сделаны заключения о влиянии фазовой сегрегации и применимости используемого температурного режима. Было установлено, что у образцов, полученных при использовании температур вакуумирования и отжига, равных 70°С, наблюдали пики фотолюминесценции на длинах волн 616 ± 14 и 638 ± 18 нм, соответствующие соединению CsPbBr2I. Наличие двух пиков свидетельствует о незначительной фазовой сегрегации, которая проявляется в локальном изменении стехиометрического состава образцов с формированием областей, обогащенных бромом и йодом. Тем не менее среди исследуемой выборки, с учетом ограничения фотоиндуцированной фазовой сегрегации, указанный режим термической обработки является оптимальным: понижение температуры приводит к смещению линии фотолюминесценции в область спектра с меньшей длиной волны, в то время как ее повышение ведет к образованию дефектных нелюминесцентных фаз.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. С. Тойкка

Санкт-Петербургский академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук; Университет ИТМО

Автор, ответственный за переписку.
Email: astoikka.nano@gmail.com
Россия, Санкт-Петербург; Санкт-Петербург

Р. Кенесбай

Санкт-Петербургский академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук

Email: astoikka.nano@gmail.com
Россия, Санкт-Петербург

М. Баева

Санкт-Петербургский академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук

Email: astoikka.nano@gmail.com
Россия, Санкт-Петербург

Д. М. Митин

Санкт-Петербургский академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук

Email: astoikka.nano@gmail.com
Россия, Санкт-Петербург

И. С. Мухин

Санкт-Петербургский академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук

Email: astoikka.nano@gmail.com
Россия, Санкт-Петербург

Список литературы

  1. Yao Z., Zhao W., Chen S., Jin Z., Liu, S. F. // ACS Appl. Energy Mater. 2020. V. 3. № 6. P. 5190. https://www.doi.org/10.1021/acsaem.9b02468
  2. Wang Q., Gong Z., Wu S., Pan S., Pan J. // J. Crystal Growth. 2022. № 596. P. 126838. https://www.doi.org/org/10.1016/j.jcrysgro.2022. 126838
  3. Zhang X., Yang P. // Langmuir. 2023. V. 39. № 32. P. 11188. https://www.doi.org/10.1021/acs.langmuir.3c01848
  4. Moon J., Mehta Y., Gundogdu K., So F., Gu Q. // Adv. Mater. 2023. P. 2211284. https://www.doi.org/10.1002/adma.202211284
  5. Baeva M., Gets D., Polushkin A., Vorobyov A., Goltaev A., Neplokh V., Mozharov A., Krasnikov D.V., Nasibulin A.G., Mukhin I., Makarov S. // Opto-Electronic Adv. 2023. V. 6. P. 220154. https://www.doi.org/10.29026/oea.2023.220154
  6. Hänsch P., Loi M.A. // Appl. Phys. Lett. 2023. V. 123. P. 030501. https://www.doi.org/10.1063/5.0151942
  7. Li H., Lin H., Ouyang D., Yao C., Li C., Sun J., Song Y., Wang Y., Yan Y., Wang Y., Dong Q., Choy W.C.H. // Adv. Mater. 2021. V. 33. P. 2008820. https://www.doi.org/10.1002/adma.202008820
  8. Shen X., Zhang X., Wang Z., Gao X., Wang Y., Lu P., Bai X., Hu J., Shi Z., Yu W.W., Zhang Y. // Adv. Functional Mater. 2022. V. 32. P. 2110048. https://www.doi.org/10.1002/adfm.202110048
  9. Yang J.N., Song Y., Yao J.S., Wang K.H., Wang J.J., Zhu B.S., Yao M.M., Rahman S.U., Lan Y.F., Fan F.J., Yao H. // J. Am. Chem. Soc. 2020. V. 142. № 6. P. 2956. https://www.doi.org/10.1021/jacs.9b11719
  10. Aygüler M.F., Puscher B.M.D., Tong Y., Bein T., Urban A.S., Costa R.D., Docampo P. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2018. V. 51. № 33. P. 1. https://www.doi.org/10.1088/1361-6463/aad203
  11. Wang C.M., Su Y.M., Shih T.A., Chen G.Y., Chen Y.Z., Lu C.W., Yu I.S., Yang Z.P., Su H.C. // J. Mater. Chem. C. 2018. V. 6. № 47. P. 12808. https://www.doi.org/10.1039/c8tc04451a
  12. Stockman A., Macleod D.I.A., Johnson N.E. // J. Opt. Soc. Am. A. 1993. V. 10. № 12. P. 2491. https://www.doi.org/10.1364/josaa.10.002491
  13. Li J., Yang L., Guo Q., Du P., Wang L., Zhao X., Liu N., Yang X., Luo J., Tang J. // Sci. Bull. 2022. V. 67. № 2. P. 178. https://www.doi.org/10.1016/j.scib.2021.09.003
  14. Liang J., Liu Z., Qiu L., Hawash Z., Meng L., Wu Z., Jiang Y., Ono L.K., Qi Y. // Adv. Energy Mater. 2018. V. 8. P. 1800504. https://www.doi.org/10.1002/aenm.201800504
  15. Zheng L., Hurst T., Li Z. // Georgia J. Sci. 2022. V. 80. № 2. P. 1.
  16. Gets D., Alahbakhshi M., Mishra A., Haroldson R., Papadimitratos A., Ishteev A., Saranin D., Anoshkin S., Pushkarev A., Danilovskiy E., Makarov S., Slinker J.D., Zakhidov A.A. // Adv. Opt. Mater. 2021. V. 9. P. 2001715. https://www.doi.org/10.1002/adom.202001715
  17. Mondal S., Paul T., Maiti S., Das B.K., Chattopadhyay K.K. // Nano Energy. 2020. V. 74. P. 104870. https://www.doi.org/10.1016/j.nanoen.2020.104870
  18. Liu C., Cheng Y.B., Ge Z. // Chem. Soc. Rev. 2020. V. 49. № 6. P. 1653. https://www.doi.org/10.1039/c9cs00711c
  19. Zhang X., Gao X., Meng X. // J. Alloys Compd. 2019. V. 810. P. 151943. https://www.doi.org/10.1016/j.jallcom.2019.151943
  20. Gualdrón-Reyes A.F., Yoon S.J., Barea E.M., Agouram S., Muñoz-Sanjosé V., Meléndez Á.M., Niño-Gómez M.E., Mora-Seró I. // ACS Energy Lett. 2019. V. 4. № 1. P. 54. https://www.doi.org/10.1021/acsenergylett.8b02207
  21. OceanView (v. 1.6.7) (2020) Ocean Optics, США. https://www.oceanoptics.com/software/. Дата посещения 16.08.2024.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Фотолюминесценция исследуемых образцов: спектральные зависимости (а) и изображения, полученные с помощью оптического микроскопа (б). Спектральные зависимости фотолюминесценции даны при Tвак = Tотж = 60°С (1); Tвак = 60°С, Tотж = 70°С (2); Tвак = 60°С, Tотж = 80°С (3); Tвак = 70°С, Tотж = 70°С (4); Tвак = 70°С, Tотж = 80°С (5); Tвак = 80°С, Tотж = 80°С (6); Tвак = 80°С, Tотж = 90°С (7) и нормированы на максимум интенсивности фотолюминесценции пленок при Tвак = Tотж = 60°С. Оптические изображения получены при Tвак = Tотж = 60°С (1); Tвак = 60°С, Tотж = 70°С (2); Tвак = 60°С, Tотж = 80°С (3); Tвак = 70°С, Tотж = 70°С (4).

Скачать (472KB)

© Институт физики твердого тела РАН, Российская академия наук, 2025